Techniques de caractérisation des surfaces et interfaces [SPHYM226]
- 3 credits
- 30h
- 1st quarter
Language of instruction: French / FrançaisTeachers: Houssiau Laurent, Terwagne Guy
Learning outcomes
Ce cours est destiné à familiariser les étudiants aux différentes techniques d'analyse de surfaces et d'interfaces utilisant des faisceaux d'électrons et des faisceaux d'ions de basse et haute énergie.
Objectives
Donner aux étudiants du master en physique en FA une connaissance théorique des méthodes principales d'analyse de surfaces et d'interfaces, utilisées pour la recherche académique et industrielle.
Content
Spectrosopies électronique et ionique à basse énergie (L. Houssiau, 15h)
- X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
- Auger electron spectroscopy (AES)
- Secondary ion mass spectrometry (SIMS et ToF-SIMS)
- Low energy ion scattering (LEIS)
Spectrométries ioniques à hautes énergies (G. Terwagne, 15h)
- Interactions des ions avec la matière (perte d'énergie, étalement énergétique, sections efficaces de réactions)
- Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS)
- Elastic Recoil Detection (ERD)
- (Resonant) Nuclear Reaction Analysis (NRA ou RNRA)
- Particle induced X-ray (gamma-ray) Emission (PIXE ou PIGE)
- Détection de rayonnement ou de particules chargées ou non
Teaching methods
Cours magistral, illustré principalement par des présentations PowerPoint.
Evaluations
L'évaluation de la partie sur les spectrocopies electronique et ioniques à basse énergie donnée par L. Houssiau se fera sous la forme d'un examen oral avec préparation.
Recommended readings
Physique nucléaire 1re partie (G. Terwagne - Librairie des Sciences, FUNDP) Physique nucléaire 2e partie (G. Terwagne - Librairie des Sciences, FUNDP)
Language of instruction
French / FrançaisLocation for course
NAMUROrganizer
Faculté des sciencesRue de Bruxelles, 61
5000 NAMUR
